اندازه گیری طول عمر نابودی پوزیترون در سیلیسیم تابش دیده توسط گاما

thesis

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه سیستان و بلوچستان - دانشکده علوم پایه
author فروغ شکوهی
adviser علی اکبر مهماندوست خواجه داد مرتضی جعفر زاده خطیبانی
Number of pages: First 15 pages
publication year 1392

abstract

روش طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون، روش جدیدی است که پژوهشگران در حال مطالعه، کشف کاربردهای جدید و تکمیل و بهبود آن هستند. این روش یکی از روش های طیف سنجی پوزیترون است. روش های طیف سنجی همواره برای بررسی ساختار مواد مختلف مورد توجه بوده اند. از کاربردهای مهم این روش می توان به تخمین میزان تاثیر تشعشعات پرتوزا بر روی ساختار موادی که در معرض این گونه تابش ها قرار گرفته اند اشاره نمود. در این پژوهش از دستگاه طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون، با تفکیک پذیری زمانی حدود 356 پیکو ثانیه استفاده شده است. نمونه های سیلیکونی نوع nوp رشد یافته به روش سی زورالسکی تحت تابش گامای ناشی از چشمه co60 واقع در سازمان انرژی اتمی ایران قرار گرفته اند. نمونه ها به ترتیب تحت تابش با دوزهای 12، 75و175 کیلوگری قرار گرفته اند. طیف های طول عمر نابودی پوزیترون در نمونه هاتوسط نرم افزار پاسکوال برازش شده اند. تحلیل طول عمر نابودی پوزیترون در نمونه های تابش خورده، بیانگر این واقعیت است که دوز های 12،75و175 کیلو گری از تابش گاما برای ایجاد عیب در نمونه سیلیکونی کافی نیستند.

First 15 pages

Signup for downloading 15 first pages

Already have an account?login

similar resources

اندازه گیری طول عمر نابودی پوزیترون در سیلیسیم تابش دیده توسط الکترون

طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون روشی با ارزش و غیر مخرب در زمینه مطالعه مواد است، که می تواند برای مطالعات حجمی و سطحی به کار رود. این روش مبتنی بر سه روش اندازه گیری؛ تعیین طول عمر، پهن شدگی دوپلر و همبستگی زاویه ای فوتون های نابودی است. از روش اندازه گیری طول عمر برای تعیین اندازه عیب مواد و از روش پهن شدگی دوپلر برای شناسایی محیط پیرامون عیب استفاده می شود. روش طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیت...

طیفسنجی طول عمر نابودی پوزیترون -1 مقدمه ای بر روش و کاربردهای آن در علم پلیمر

در فن طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون، مدت زمان لازم برای نابودی پوزیترون پس از ورود آن به درون ماده به وسیله واکنش های پوزیترونیم اندازه گیری می شود. استفاده از این روش در علم شیمی و پلیمر امری نو و در حال پیش رفت است. این فن طیف سنجی قابلیت استفاده در بررسی حجم آزاد را در مواد مختلف از جمله پلیمرها، اندازه گیری دمای انتقال شیشهای- لاستیکی پلیمرها و بررسی امتزاج پذیری آلیاژهای پلیمری دارد. به...

full text

روش‌های طیف‌سنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستم‌های اندازه گیری

در این مقاله، ابتدا گزارشی از مشخصات یک سیستم اندازه‌گیری طول عمر نابودی پوزیترون در مواد، که برای اولین بار در ایران با همکاری گروه فیزیک دانشگاه سیستان و بلوچستان و شرکت نوین طیف ساخته شده، ارائه می‌شود. در حال حاضر این سیستم قادر است با قدرت تفکیک زمانی بهتر از 350 پیکوثانیه طول عمر نابودی پوزیترون در موادی همچون سرامیک، شیشه و سایر مواد عایق با ضریب دی الکتریک متفاوت را اندازه‌گیری کند. در ...

full text

طیفسنجی طول عمر نابودی پوزیترون -1 مقدمه ای بر روش و کاربردهای آن در علم پلیمر

full text

طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون 2- آشنایی با روش و انواع کاربردهای آن در علم پلیمر

در بخش اول مقاله، فن طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون، اجزای آن و معادلات بهک ار رفته در تفسیر نتایج بیان شد. در این روش، طول عمر پوزیترون در جسم به وسیله ازبین رفتن آن با واکنش پوزیترونیم اندازه گیری و به شکل یک طیف نشان داده می شود. از طیف طول عمر نابودی پوزیترون می توان برای شناسایی مواد پلیمری بهره جست. فن طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون در بررسی حجم آزاد در مواد مختلف از جمله پلیمرها، اند...

full text

روش های طیف سنجی نابودی پوزیترون در مواد و جزئیات فنی برخی سیستم های اندازه گیری

در این مقاله، ابتدا گزارشی از مشخصات یک سیستم اندازه گیری طول عمر نابودی پوزیترون در مواد، که برای اولین بار در ایران با همکاری گروه فیزیک دانشگاه سیستان و بلوچستان و شرکت نوین طیف ساخته شده، ارائه می شود. در حال حاضر این سیستم قادر است با قدرت تفکیک زمانی بهتر از 350 پیکوثانیه طول عمر نابودی پوزیترون در موادی همچون سرامیک، شیشه و سایر مواد عایق با ضریب دی الکتریک متفاوت را اندازه گیری کند. در ...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}

document type: thesis

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه سیستان و بلوچستان - دانشکده علوم پایه

Keywords

نابودی پوزیترون طیف سنجی سیلیکون پرتو گاما عیب یابی ساختار بلور تابش الکترومغناطیسی طول عمر

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com